EN 60749-32-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料封装器件的易燃性(外部引起的)
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时间:2024-05-05 21:49:33
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)(IEC60749-32:2003+Corr.1:2003);GermanversionEN60749-32:2003+Corr.:2003
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料封装器件的易燃性(外部引起的)
【标准号】:EN60749-32-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:2003-12-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:易燃性;易燃性;元部件;耐力;电学测量;电子设备及元件;机械试验;环境试验;电气工程;电子工程;气候试验;温度变化;半导体器件;试验;外观检查(试验);集成电路;热学;半导体
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Inflammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:13_220_40;31_080_01
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第32部分:塑料封装器件的易燃性(外部引起的)
【标准号】:EN60749-32-2003
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2003-12
【实施或试行日期】:2003-12-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:易燃性;易燃性;元部件;耐力;电学测量;电子设备及元件;机械试验;环境试验;电气工程;电子工程;气候试验;温度变化;半导体器件;试验;外观检查(试验);集成电路;热学;半导体
【英文主题词】:Changesoftemperature;Climatictests;Components;Electricalengineering;Electricalmeasurement;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Environmentaltesting;Environmentaltests;Flammability;Heat;Inflammability;Integratedcircuits;Mechanicaltesting;Resistance;Semiconductordevices;Semiconductors;Testing;Visualinspection(testing)
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:13_220_40;31_080_01
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:英语
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